ÀúÈñ ¢ßÀç½ÅÁ¤º¸¿¡¼´Â PSL»çÀÇ IPC-480V-200A ´ë¿ë·® Sag ¹ß»ý±â¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© SEMI F47, IEC61000-4-11, 4-34¸¦ °¡Àå °æÁ¦ÀûÀ¸·Î È®½ÇÇÏ°Ô Åë°úÇϱâ À§ÇÑ ´ëÃ¥ ÄÁ¼³Æõµ ½ÃÇàÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
|
SEMI F47 ÀÎÁõ·Î°í (Àç½ÅÁ¤º¸ ¹ßÇà) |
Àç½ÅÁ¤º¸ÀÇ »õ±×¹ß»ý±â(IPC200A-480V)¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ SEMI F47 Testing ½ÃÇè Àå¸é |
SEMI F47 ½ÃÇèÀº ¹Ì±¹ PSL»çÀÇ »õ±×¹ß»ý±âÀÎ IPC200A-480V¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© ÀÌ ºÐ¾ß¿¡¼ ±¹³»¿¡¼ °¡Àå °æÇèÀÌ Ç³ºÎÇÑ ÇÑ Á¤±Ô ´ëÇ¥°¡ Á÷Á¢ ½Ç½ÃÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. ½ÃÇèÀ» ÅëÇÏ¿© °¡Àå °æÁ¦ÀûÀÌ¸é¼ ½Å·Ú¼ºÀÖ´Â ´ëÃ¥µµ Á¦°øÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
¡á SEMI F47 Testing and Certification
ÀúÈñ ¢ßÀç½ÅÁ¤º¸¿¡¼´Â PSL»çÀÇ IPC-480V-200A ´ë¿ë·® Sag ¹ß»ý±â¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© SEMI F47, IEC61000-4-11, 4-34¸¦ Åë°úÇϱâ À§ÇÑ ´ëÃ¥ ÄÁ¼³Æõµ ½ÃÇàÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
Á¤È®ÇÑ »õ±× ½ÃÇèÀ» Çϱâ À§Çؼ´Â ±¹Á¦ ±âÁØ¿¡ ºÎÇÕÇÏ´Â »õ±× ¹ß»ý±â¸¦ ÅëÇÏ¿© ½ÃÇèÀ» ÇÏ¿©¾ß ÇÏÁö¸¸ ¿ì¸® ³ª¶ó¿¡¼´Â ¾ÆÁ÷±îÁö 3»ó Àü¿øÀÇ ´ëÀü·ù °íÀü¾Ð±îÁö ½ÃÇèÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Àåºñ°¡ µµÀÔµÇÁö ¾Ê¾ÒÀ¸³ª 2007³âºÎÅÍ´Â ½Ã´ëÀÇ È帧¿¡ ºÎÀÀÇÏ¿© ÀÌ·¯ÇÑ »õ±× ³»¼º ÀÎÁõ½ÃÇèÀ» ¿øÈ°ÇÏ°Ô ÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô µÇ¾ú½À´Ï´Ù.
1) »õ±× ½ÃÇèÀ» Çϱâ À§Çؼ´Â ¸ÕÀú ¾Æ·¡¿Í °°Àº »õ±×¹ß»ý±â(IPC480V-200A)¸¦ ÁغñÇÏ¿©¾ß ÇÕ´Ï´Ù.
2) ´ÙÀ½À¸·Î´Â ÄÉÀÌºí ¿¬°áÀ» À§ÇÑ Á´¼Ç¹Ú½º(Junction Box) ¹× Å×½ºÅÍ Probe¸¦ ÁغñÇÏ¿©¾ß ÇÕ´Ï´Ù. Á¢Áö¼±µµ ¹Ýµå½Ã Áغñ¸¦ ÇØ¾ß ÇÕ´Ï´Ù.
3) ´ÙÀ½À¸·Î´Â Àåºñ¸¦ ¿¬°áÇÏ°í ½ÃÇèÀ» ½Ç½ÃÇÕ´Ï´Ù.
4) ´ÙÀ½Àº Àåºñ ¼º´É¸¸Á·À» À§Çؼ °¢Á¾ ½ÃÇèÀ» ¼öÇàÇÑ ÈÄ¿¡ ÃøÁ¤ µ¥ÀÌÅ͸¦ ÃëµæÇØ¾ß ÇÕ´Ï´Ù.
5) »õ±× ¹ß»ý½Ã ÀåºñÀÇ ¼ø°£ÀúÀü¾Ð ³»¼ºÀ» Á¶»çÇÕ´Ï´Ù.
6) ½ÃÇè°á°ú Á¾ÇÕ º¸°í¼¸¦ ÀÛ¼ºÇÕ´Ï´Ù.
7) ½ÃÇèÅë°ú ÈÄ ÀÎÁõ¼¸¦ ¹ßÇàÇÕ´Ï´Ù.
¡á ±¹³»¿¡¼ÀÇ SEMI F47 ½ÃÇè ¹× ÀÎÁõ¼ ¹ßÇàȸ»ç
- TUV ¶óÀζõµå, SGSÄÚ¸®¾Æ, ¾ÆÀ̾ËÅ×Å©, ¼¼ÀÌÇÁ¿ùµå¿£Áö´Ï¾î¸µ, ½ºÅÄ´Ùµå¹ðÅ©, ¿¡½º¾Ø¿¡½ºÀüÀÚÆĽÃÇ迬±¸¿ø, ICR µî
|